LS225涂層測厚儀+N1500探頭

LS225+N1500是一款分體式的鋁基涂層測厚儀，由主機LS225和非鐵基探頭N1500組成。儀器采用渦流感應原理，具有超高的測量精度和重復性，配上探針式的測頭設計，特別適用于測量超薄涂鍍層以及各種小尺寸工件、異型材料。

主要用于鋁合金型材，鋁板，鋁塑板以及各種鋁工件表面的陽極氧化層以及黃銅，紫銅等有色金屬基體上的非導電涂層厚度測量。

1.探針式測頭設計，特別適合于測量小尺寸和異型材料上的涂鍍層厚度。

2.采用數(shù)字震蕩技術和高速ADC采集，可測量10μm以下超薄涂鍍層且確保數(shù)據(jù)精準穩(wěn)定。

3.采用數(shù)字探頭，數(shù)字信號在探頭上處理，不易受外界環(huán)境干擾，確保良好的數(shù)據(jù)重復性。

4.具有超寬量程0-1500μm，測量單位μm和mil可切換。

5.選購專用的手壓測試機架能消除人為因素造成的誤差，數(shù)據(jù)重復性可達0.1μm

6.?支持調零和多點校準確保數(shù)據(jù)更加精準，配備專門的調零板和標準片。

7.具備數(shù)據(jù)統(tǒng)計功能，自動統(tǒng)計最近9組數(shù)據(jù)的最大值，最小值，平均值和方差值。